Xentaur XTDL-HT |
| 所属类别：美国 FITLIGHT |
| 发布时间：2018-12-12 18:07:47 |
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产品详细：
XTDL-HT™ 设计有一个全新的专有光学取样系统，用于收集热处理应用领域中受污染的保护气体。根据我们许多客户 30 多年的行业经验，受污染的保护气体往往会导致其它分析仪损坏、读数漂移或测量结果不可信。
可调谐二极管激光光谱
Xentaur 湿度分析仪 XTDL-HT™ 型号采用基于 Physical Sciences Inc. 的 GasScan™ TDLAS（可调谐二极管激光吸收光谱）技术的全新专有光学算法而设计。所有光学和取样系统元件都设计用于苛刻的保护气体环境中的高颗粒含量应用场合。
TDLAS 技术可快速、准确、可靠地测量保护气体的湿度，从而提高控制各种热处理工艺中部件完工性的能力。
XTDL-HT™ 所需维护较低，必要时可在现场清洁，不会影响系统的光学校准。
COSA Xentaur 在 TDLAS 痕量气体分析仪领域的合作伙伴是：
PSI Physical Sciences Inc.
20 New England Business Center
Andover, MA 01810-1077 USA
http://www.psicorp.com/index.html
